Sağlığa zararlı ağır metallerle ilgili kaygılar artmaya başladıkça, XRF analizinin dedeksiyon hassasiyetinin arttırılması ve standart dışı ebatlardaki numunelerde miktarsal doğruluk değerlerinin iyileştirilmesi gereksinimi oluşmaktadır. Shimadzu bu gelişmelerle iki açıdan ilgilenmektedir. Öncelikle primer filtrenin değişmesiyle dedeksiyon hassasiyeti geleneksel cihazlara kıyasla 2 veya 3 kat artmıştır. İkincisi de kantitatif doğruluğun, BG (background) internal standart doğrulama metodu kullanılarak, numunenin kalınlığından, şeklinden ve ebatlarından bağımsız olarak iyileştirilmesi üzerine çalışmalar yapılmıştır. Bu araştırmanın sonuçları, daha fazla sayıda numunenin, hazırlık aşaması gerektirmeden analiz edilmesine olanak sağlayan XRF nalizinin nerelerde kullanılabileceği ve ne kadar güçlü olduğunu göstermektedir. Bu sistem AB’de ve ülkemizde Atık Elektronik Eşyaların Kontrolü (AEEE / WEEE), RoHS ve ELV gibi çeşitli regülasyonlara uygunluk kontrolleri açısından kullanıma son derece elverişlidir.